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          otsukael 高靈敏度示差折光儀 鎢絲燈 光源 紫外光譜儀

          otsukael 高靈敏度示差折光儀 鎢絲燈 光源DRM-3000的介紹

          通過注射器方法可以很容易地進行樣品注入。
          數據處理很容易,因為控制和數據采集是從個人計算機進行的。
          低噪聲、高穩定性和可重復測量是可能的。

          • 產品型號:DRM-3000
          • 廠商性質:經銷商
          • 更新時間:2023-04-14
          • 訪  問  量:326
          立即咨詢

          聯系電話:13691609757

          產品詳情
          品牌其他品牌產地國產

          otsukael 高靈敏度示差折光儀 鎢絲燈 光源DRM-3000的介紹

          otsukael 高靈敏度示差折光儀 鎢絲燈 光源DRM-3000的介紹



          • 通過注射器方法可以很容易地進行樣品注入。

          • 數據處理很容易,因為控制和數據采集是從個人計算機進行的。

          • 低噪聲、高穩定性和可重復測量是可能的。

          應用實例
          • 通過靜態光散射測定重均分子量的 dn/dc 測量

          • 表面活性劑等的膠束臨界濃度(c.m.c)測量

          • 高分子吸附量的測定

          • 高分子共聚物的成分分析

          • 脂質體相變溫度測量等




          除了可以進行高精度薄膜分析的分光橢圓偏光法外,它還通過實現自動可變測量角度機構來兼容所有類型的薄膜。除了傳統的旋轉分析器方法外,還通過為延遲板提供自動安裝/拆卸機構提高了測量精度。



          特征
          • 可在紫外-可見(300 至 800 nm)波長范圍內測量橢圓參數

          • 能夠分析納米級多層薄膜的膜厚

          • 通過 400 通道或更多通道的多通道光譜快速測量橢圓光譜

          • 支持通過可變反射角測量對薄膜進行詳細分析

          • 通過創建光學常數數據庫和添加配方注冊功能提高可操作性


          測量項目
          • 橢圓參數(tanψ,cosΔ)測量

          • 光學常數(n:折射率,k:消光系數)分析

          • 膜厚分析


          測量對象
          • 半導體ウェーハ
            ゲート酸化薄膜,窒化膜
            SiO2,SixOy,SiN,SiON,SiNx,Al2O3,SiNxOy,poly-Si,ZnSe, BPSG,TiN
            レジストの光學定數(波長分散)

          • 化合物半導體
            AlxGa(1-x)As 多層膜,アモルファスシリコン

          • FPD
            配向膜

          • 各種新素材
            DLC(Diamond Like Carbon),超伝導用薄膜,磁気ヘッド薄膜

          • 光學薄膜
            TiO2,SiO2,反射防止膜

          • リソグラフィー分野
            g線(436nm),h線(405nm),i線(365nm)などの各波長におけるn,k評価

          光源 鎢絲燈
          探測器 光電二極管陣列
          測量波長 633 nm(帶干涉濾光片)
          樣品池 流通池容量 8 μL(注射器法)
          溫度范圍 10至50°(無結露)
           恒溫水循環系統
          測量范圍 0 至 ±4× 10 -3Δn
          噪音水平 2×10 -7 Δn(25℃,蒸餾水)
          基礎穩定性 2×10 -6 Δn/h(25℃,蒸餾水)
          電源 AC100V±10V, 150VA (最大)
          尺寸(WDH) 260×400×165mm
          重量 約13公斤


          otsukael靜態光散射光度計 積分光度計SLS-6500HL的介紹



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